[发明专利]光纤耦合单光子源的滤光和二阶关联度测试装置有效

专利信息
申请号: 202010034295.X 申请日: 2020-01-13
公开(公告)号: CN111089648B 公开(公告)日: 2020-11-13
发明(设计)人: 尚向军;牛智川;马奔;倪海桥;李叔伦;陈瑶;何小武 申请(专利权)人: 中国科学院半导体研究所
主分类号: G01J3/02 分类号: G01J3/02;G01J3/26
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 吴梦圆
地址: 100083 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 本公开提供一种光纤耦合单光子源的滤光和二阶关联度测试装置,包括:氦氖激光,用于发出泵浦光,经单模光纤耦合输出;Y形熔融光纤波分复用器,用于将泵浦光导入光纤耦合单光子源器件激发产生单量子点荧光信号;2x2熔融光纤分束器,与Y形熔融光纤波分复用器的输出端相连,用于将单量子点荧光信号按功率平分为两路并输出;激光准直器,分别将两路功率平分后的单量子点荧光信号转换为两路空间平行荧光;滤波片组,用于分别将两路空间平行荧光中的非单光子信号滤除,得到两路窄谱线单光子信号;两个硅单光子计数器,用于测试窄谱线单光子信号计数率;时间符合计数模块,与硅单光子计数器相连,通过符合计数表征单光子信号二阶关联度。
搜索关键词: 光纤 耦合 光子 滤光 关联 测试 装置
【主权项】:
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