[发明专利]一种利用SKPFM表征梯度组织位错密度分布的方法在审
| 申请号： | 202010035144.6 | 申请日： | 2020-01-13 |
| 公开（公告）号： | CN111122911A | 公开（公告）日： | 2020-05-08 |
| 发明（设计）人： | 石维;向嵩;谭元标;成桃 | 申请（专利权）人： | 贵州大学 |
| 主分类号： | G01Q60/00 | 分类号： | G01Q60/00;G01Q30/20 |
| 代理公司： | 北京众合诚成知识产权代理有限公司 11246 | 代理人： | 邹仕娟 |
| 地址： | 550025 *** | 国省代码： | 贵州;52 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种利用SKPFM表征梯度组织位错密度分布的方法，该方法包含：(1)对具有均相马氏体组织的高强度钢通过冷变形强化方法在其表明形成具有位错密度梯度的梯度强化层；(2)对经过步骤(1)处理的高强度钢进行氩离子抛光处理，以显示晶粒形态；(3)将氩离子抛光处理后的样品置于SKPFM平台上，测其梯度强化层的表面Volta电势，并针对不同区域进行位错密度分布判断。本发明的方法能够在纳米尺度上测试，精确到晶粒尺度，能够检测到晶界处位错缺陷的存在。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 利用 skpfm 表征 梯度 组织 密度 分布 方法 | ||
【主权项】：
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