[发明专利]照射双棱镜的棱面和底面测量材质折射率的方法有效
| 申请号： | 202010039751.X | 申请日： | 2020-01-15 |
| 公开（公告）号： | CN111175251B | 公开（公告）日： | 2021-08-03 |
| 发明（设计）人： | 胡再国 | 申请（专利权）人： | 四川大学 |
| 主分类号： | G01N21/41 | 分类号： | G01N21/41 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 610065 四川*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 照射双棱镜的棱面和底面测量材质折射率的方法涉及折射率的测量，双棱镜的厚度能够忽略，两个激光器的出射光在一条直线上；每个激光器的出射孔有一个刻度尺，刻度尺有一个正方形孔洞对准激光器的出射孔，正方形孔洞的一端为刻度尺的零点；双棱镜位于两个激光器的正中间；左侧激光器的激光垂直于双棱镜的底面照射到前端棱面对应的底面，光线不发生光路改变照射到棱面、再反射到底面、再折射出来照射到左侧刻度尺形成折射光点，折射光点的后端和正方形孔洞后端之间的距离为S2;光线在棱面反射光照射到右侧刻度尺形成光斑与正方形孔洞之间的距离为S1，S1是指激光的正方形出射孔洞的后端到反射光斑后端之间的距离；折射率n=S2/S1。 | ||
| 搜索关键词： | 照射 棱镜 底面 测量 材质 折射率 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
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