[发明专利]室温高自旋霍尔角铂-稀土薄膜材料及其制备方法和应用有效
申请号: | 202010041791.8 | 申请日: | 2020-01-15 |
公开(公告)号: | CN111235423B | 公开(公告)日: | 2021-10-26 |
发明(设计)人: | 金立川;朱虹宇;张怀武;唐晓莉;钟智勇;向全军;白飞明 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | H01L43/14 | 分类号: | H01L43/14 |
代理公司: | 电子科技大学专利中心 51203 | 代理人: | 吴姗霖 |
地址: | 611731 四川省成*** | 国省代码: | 四川;51 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 一种室温高自旋霍尔角铂‑稀土薄膜材料,属于自旋电子新材料技术领域。所述薄膜材料为生长于基片表面的铂‑稀土合金薄膜,所述铂‑稀土合金薄膜中,稀土元素的摩尔百分比为1mol%~60mol%,铂的摩尔百分比为40mol%~99mol%。本发明提供的一种室温高自旋霍尔角铂‑稀土薄膜材料及其制备方法,简单可行,制得的铂‑稀土薄膜相对于纯铂薄膜的室温下的自旋霍尔角度显著增加,室温自旋扩散长度减小;与纯铂金材料的自旋霍尔效应相比,自旋流的产生效率增加,成本降低,可实现在大面积半导体晶圆片上的均匀制备,为巨自旋霍尔材料的大面积制备与研究提供了一种新的方法。 | ||
搜索关键词: | 室温 自旋 霍尔 稀土 薄膜 材料 及其 制备 方法 应用 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于电子科技大学,未经电子科技大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010041791.8/,转载请声明来源钻瓜专利网。