[发明专利]测量装置在审
| 申请号： | 202010042049.9 | 申请日： | 2020-01-15 |
| 公开（公告）号： | CN111610475A | 公开（公告）日： | 2020-09-01 |
| 发明（设计）人： | 竹村祐辉;芳井义治;斋藤正树 | 申请（专利权）人： | 胜美达集团株式会社 |
| 主分类号： | G01R33/24 | 分类号： | G01R33/24;G01R33/32;G01R33/032 |
| 代理公司： | 北京智晨知识产权代理有限公司 11584 | 代理人： | 张婧 |
| 地址： | 日本国*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明的测量装置，能够在较短时间内进行利用了基于拉比振荡的电子自旋量子操控的磁场测量或电场测量，该基于拉比振荡的电子自旋量子操控通过微波照射进行；微波生成部(2)生成用于进行基于拉比振荡的电子自旋量子操控的微波，观测系统(11)使用被照射上述微波的电子自旋共振构件确定被测量场的强度；微波生成部(2)具备发射上述微波的线圈部(2a)和与该线圈部(2a)电气上并联配置的追加静电电容部(2b)；而且，追加静电电容部(2b)相对于线圈部(2a)直接配置，或者，配置在与线圈部(2a)电连接的电气元件和线圈部(2a)之间。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 装置 | ||
【主权项】：
暂无信息
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