[发明专利]一种栅极结构的制备方法以及栅极结构在审

专利信息
申请号: 202010042884.2 申请日: 2020-01-15
公开(公告)号: CN111244165A 公开(公告)日: 2020-06-05
发明(设计)人: 周广楠;于洪宇;夏光睿 申请(专利权)人: 南方科技大学
主分类号: H01L29/423 分类号: H01L29/423;H01L29/778;H01L29/20
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 孟金喆
地址: 518000 广东省*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明实施例公开了一种栅极结构的制备方法以及栅极结构,其中栅极结构的制备方法包括:提供外延片,外延片包括衬底层、缓冲层、沟道层、势垒层和P型栅层;于P型栅层上形成栅极掩膜并刻蚀未被所述栅极掩膜覆盖的P型栅层,漏出势垒层;于漏出的势垒层上进行二次外延生长。通过较薄的势垒层来增加阈值电压,在沟道区域刻蚀P型栅层过后的势垒层表面上选择性二次外延生长新的AlGaN来降低导通电阻和增加饱和电流,可以保证器件有高阈值电压同时,有效的降低导通电阻。
搜索关键词: 一种 栅极 结构 制备 方法 以及
【主权项】:
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