[发明专利]一种基于双光梳光谱技术的温度和浓度测量系统和方法在审

专利信息
申请号: 202010045075.7 申请日: 2020-01-16
公开(公告)号: CN111077109A 公开(公告)日: 2020-04-28
发明(设计)人: 曹章;蔡兆雨;徐立军;张宏宇;黄昂 申请(专利权)人: 北京航空航天大学
主分类号: G01N21/39 分类号: G01N21/39;G01N21/01;G01D21/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100191*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明提出一种基于双光梳光谱技术的温度和浓度测量系统和方法,属于激光吸收光谱技术领域。测量系统包括两个重复频率差小于1MHz的光学频率梳、2×2光纤耦合器、光学带通滤波器、准直器、低通滤波器、光电探测器、数据采集卡等;双光梳经耦合分束,一路为测量光路,经待测气体和光学带通滤波器后由光电探测器接收;一路为参考光路,经光学带通滤波器后耦合到光电探测器;双光梳在光电探测器上产生的干涉信号经低通滤波器滤波后被数据采集卡采集;通过对测量和参考光路的干涉信号做傅里叶变换提取吸收谱信息,最后基于多色法和最小二乘法计算温度和浓度。本发明利用光频梳的精密光谱分辨能力实现温度和浓度的免波长标定测量,具有广阔应用前景。
搜索关键词: 一种 基于 双光梳 光谱 技术 温度 浓度 测量 系统 方法
【主权项】:
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