[发明专利]基于能量扫描衍射的获得晶体材料共格两相衍射峰的方法有效

专利信息
申请号: 202010045873.X 申请日: 2020-01-16
公开(公告)号: CN111220635B 公开(公告)日: 2021-01-15
发明(设计)人: 陈凯;周光妮;张玉彬;朱文欣 申请(专利权)人: 西安交通大学
主分类号: G01N23/2055 分类号: G01N23/2055;G01N23/207
代理公司: 北京中济纬天专利代理有限公司 11429 代理人: 覃婧婵
地址: 710049 *** 国省代码: 陕西;61
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摘要: 本公开揭示了一种基于能量扫描衍射的获得晶体材料共格两相衍射峰的方法,包括:利用同步辐射能量扫描X射线衍射技术,获得晶体材料的衍射峰在特定能量范围内每个能量步长下的衍射强度二维分布,并计算与衍射强度二维分布相对应的衍射矢量模二维分布;对所述衍射强度二维分布和衍射矢量模二维分布进行重构,获得衍射峰的衍射强度相对于衍射矢量模的衍射强度分布曲线;选取所述衍射强度分布曲线中的有效部分,根据该有效部分在衍射峰峰值两侧的不对称性,对该有效部分进行分峰处理,获得晶体材料共格两相的第一衍射强度分布曲线和第二衍射强度分布曲线。本公开根据衍射峰的不对称性,对一维衍射峰进行分峰,能够获得错配度极小的两相独立衍射峰。
搜索关键词: 基于 能量 扫描 衍射 获得 晶体 材料 两相 方法
【主权项】:
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