[发明专利]一种生成测试用例方法、装置、电子设备及存储介质在审
| 申请号： | 202010046001.5 | 申请日： | 2020-01-15 |
| 公开（公告）号： | CN111209210A | 公开（公告）日： | 2020-05-29 |
| 发明（设计）人： | 门宗伟 | 申请（专利权）人： | 北京明略软件系统有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36;G06F8/41 |
| 代理公司： | 北京超成律师事务所 11646 | 代理人： | 刘静 |
| 地址： | 100000 北京市海*** | 国省代码： | 北京;11 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本申请提供一种生成测试用例方法、装置、电子设备及存储介质，该生成测试用例方法应用于电子设备，该方法可以包括：使用代码解析器解析待测代码，获得指令流，指令流包括：第一语言指令和第二语言指令；根据第一语言指令和第二语言指令生成测试用例。在上述的实现过程中，通过使用代码解析器解析待测代码，获得指令流，并根据包括第一语言指令和第二语言指令的指令流生成测试用例，有效地提高了获得测试用例的效率，改善了获得测试用例的效率比较低下的问题。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 生成 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于北京明略软件系统有限公司，未经北京明略软件系统有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010046001.5/，转载请声明来源钻瓜专利网。
