[发明专利]一种面向处理器芯片的静电放电抗扰度测试方法及组件有效
| 申请号： | 202010051024.5 | 申请日： | 2020-01-17 |
| 公开（公告）号： | CN111175641B | 公开（公告）日： | 2022-09-30 |
| 发明（设计）人： | 吴建飞;李雅菲;张红丽;郑亦菲;李宏;吴健煜;王宏义;郑黎明;刘培国 | 申请（专利权）人： | 天津市滨海新区军民融合创新研究院;中国人民解放军国防科技大学 |
| 主分类号： | G01R31/28 | 分类号： | G01R31/28;G01R31/00 |
| 代理公司： | 长沙国科天河知识产权代理有限公司 43225 | 代理人： | 徐志宏 |
| 地址： | 300450 天津市滨*** | 国省代码： | 天津;12 |
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| 摘要： | 本发明涉及集成电路检测技术领域，公开一种面向处理器芯片的静电放电抗扰度测试组件及方法，以提高测试的精细度和便利性。本发明组件包括：分别用于测试IC芯片不同引脚抗扰度的无电容探针和带电容探针；探针连接器，一端用于连接静电放电发生器的输出端，一端用于能拆卸的连接所述无电容探针或所述带电容探针。所述带电容探针所携带的电容为能串联在所述探针连接器与被测高速DDR芯片单端信号引脚之间的耦合电容。所述无电容探针用于将所述探针连接器与高速DDR芯片差分信号的引脚进行连接；且所述组件还包括：针对差分引脚设置有并联的耦合电容将以对接被测高速DDR芯片差分信号双端引脚的定制PCB测试板。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 面向 处理器 芯片 静电 电抗 测试 方法 组件 | ||
【主权项】：
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