[发明专利]晶圆承载装置在审
申请号: | 202010053394.2 | 申请日: | 2020-01-17 |
公开(公告)号: | CN111211084A | 公开(公告)日: | 2020-05-29 |
发明(设计)人: | 杨震;张文杰 | 申请(专利权)人: | 长江存储科技有限责任公司 |
主分类号: | H01L21/687 | 分类号: | H01L21/687;H01L21/68 |
代理公司: | 上海盈盛知识产权代理事务所(普通合伙) 31294 | 代理人: | 董琳;高翠花 |
地址: | 430074 湖北省武汉*** | 国省代码: | 湖北;42 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种晶圆承载装置,其包括:承载盘;多个限位夹具,间隔设置在所述承载盘的四周,且所述限位夹具的顶端突出于所述承载盘的承载面,在与所述承载盘的承载面平行的方向上,至少一个所述限位夹具能够相对于所述承载盘移动。其优点在于,在检测系统不报警的情况下,依然能够保证晶圆位置准确,避免在后续的工艺过程中或者晶圆转移的过程中晶圆相对目标位置错位的情况发生。 | ||
搜索关键词: | 承载 装置 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
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