[发明专利]一种磁探测精度的检测方法有效
申请号: | 202010056008.5 | 申请日: | 2020-01-16 |
公开(公告)号: | CN111239838B | 公开(公告)日: | 2022-04-12 |
发明(设计)人: | 潘东华;林生鑫;靳崇渝;金银锡;葛宇航;李立毅 | 申请(专利权)人: | 哈尔滨工业大学 |
主分类号: | G01V3/38 | 分类号: | G01V3/38;G01V3/08 |
代理公司: | 哈尔滨市阳光惠远知识产权代理有限公司 23211 | 代理人: | 刘景祥 |
地址: | 150001 黑龙*** | 国省代码: | 黑龙江;23 |
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摘要: |
本发明提出了一种磁探测精度的检测方法,所述检测方法包括以下步骤:建立全方向磁探测模型,利用全方向定位误差分布图计算磁目标的方向对磁探测精度的影响规律,为实验检测中磁目标运动轨迹的选取提供依据;利用全方向精度分布曲线和全方向误差期望λ |
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搜索关键词: | 一种 探测 精度 检测 方法 | ||
【主权项】:
暂无信息
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