[发明专利]通过成组SNP位点检测高通量测序样本污染的方法在审
| 申请号： | 202010061621.6 | 申请日： | 2020-01-19 |
| 公开（公告）号： | CN113136422A | 公开（公告）日： | 2021-07-20 |
| 发明（设计）人： | 王学良;杨贵江;鲁梅梅;刘蕴奡 | 申请（专利权）人： | 北京圣谷同创科技发展有限公司 |
| 主分类号： | C12Q1/6869 | 分类号： | C12Q1/6869;G16B20/20 |
| 代理公司： | 北京华睿卓成知识产权代理事务所(普通合伙) 11436 | 代理人： | 唐莉 |
| 地址： | 100000 北京市海淀区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明提供了通过成组SNP位点的突变情况检测测序样本是否被污染的方法，成组SNP位点是指一组或更多组成组SNP位点，每一组成组SNP位点包括2个或更多个SNP位点，同一组成组SNP位点中各SNP位点之间的距离使得它们的位点数据会出现在同一条测序reads上。检测一个样本的测序结果中每一条reads上成组SNP位点的基因型情况，如果存在于不同reads上的成组SNP位点的基因型不同，则可以判定该样本中存在污染。 | ||
| 搜索关键词： | 通过 成组 snp 点检 测高 通量 样本 污染 方法 | ||
【主权项】：
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