[发明专利]薄膜试样片制作方法和带电粒子束装置在审
申请号: | 202010064575.5 | 申请日: | 2020-01-20 |
公开(公告)号: | CN111562149A | 公开(公告)日: | 2020-08-21 |
发明(设计)人: | 铃木将人;中谷郁子;富松聪;佐藤诚 | 申请(专利权)人: | 日本株式会社日立高新技术科学 |
主分类号: | G01N1/28 | 分类号: | G01N1/28;G01N1/32;G01N23/2005;H01J37/02;H01J37/20;H01J37/305 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 黄志坚;崔成哲 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 提供薄膜试样片制作方法和带电粒子束装置,能够抑制薄膜试样片的缺损。具有如下工序:从与试样(S)的表面的法线方向(z)交叉的第2方向照射会聚离子束(FIB2)而对试样(S)进行加工,从而制作出薄膜试样片(1),并且制作出配置于试样(S)薄膜试样片(1)的厚度方向(x)的一侧并使薄膜试样片(1)连接于试样(S)的连结部(3)的工序;使试样(S)绕法线方向(z)旋转的工序;使对薄膜试样片(1)进行保持的探针连接于薄膜试样片(1)的工序;以及从与法线方向(z)交叉的第3方向向连结部(3)照射会聚离子束(FIB3)从而使薄膜试样片(1)从试样(S)分离出来的工序。 | ||
搜索关键词: | 薄膜 试样 制作方法 带电 粒子束 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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