[发明专利]薄膜试样片制作方法和带电粒子束装置在审

专利信息
申请号: 202010064575.5 申请日: 2020-01-20
公开(公告)号: CN111562149A 公开(公告)日: 2020-08-21
发明(设计)人: 铃木将人;中谷郁子;富松聪;佐藤诚 申请(专利权)人: 日本株式会社日立高新技术科学
主分类号: G01N1/28 分类号: G01N1/28;G01N1/32;G01N23/2005;H01J37/02;H01J37/20;H01J37/305
代理公司: 北京三友知识产权代理有限公司 11127 代理人: 黄志坚;崔成哲
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要: 提供薄膜试样片制作方法和带电粒子束装置,能够抑制薄膜试样片的缺损。具有如下工序:从与试样(S)的表面的法线方向(z)交叉的第2方向照射会聚离子束(FIB2)而对试样(S)进行加工,从而制作出薄膜试样片(1),并且制作出配置于试样(S)薄膜试样片(1)的厚度方向(x)的一侧并使薄膜试样片(1)连接于试样(S)的连结部(3)的工序;使试样(S)绕法线方向(z)旋转的工序;使对薄膜试样片(1)进行保持的探针连接于薄膜试样片(1)的工序;以及从与法线方向(z)交叉的第3方向向连结部(3)照射会聚离子束(FIB3)从而使薄膜试样片(1)从试样(S)分离出来的工序。
搜索关键词: 薄膜 试样 制作方法 带电 粒子束 装置
【主权项】:
暂无信息
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