[发明专利]一种用于多种芯片测试的SMT夹具

摘要

本发明属于SMT夹具技术领域，具体涉及一种用于多种芯片测试的SMT夹具，包括底层结构、中层结构、顶层结构，所述底层结构包括底座，所述中层结构包括芯片限位块、弹片限位块，所述顶层结构包括夹具盖、限位按压块，所述底座上设置有芯片限位块，所述芯片限位块的中心设置有按压方形槽，所述按压方形槽顶部的中心处设有芯片限位槽，所述芯片限位块的侧面设置有三个弹片限位块，所述弹片限位块固定在底座上，所述弹片限位块的中部设置有弹片限位槽，所述限位按压块固定在夹具盖的中心处。本发明可以直接固定于测试板上，利用弹片作为测试板与夹具的衔接便可以进行芯片测试。本发明用于芯片的测试。