[发明专利]一种天平自动检测方法及装置在审
申请号: | 202010069026.7 | 申请日: | 2020-01-21 |
公开(公告)号: | CN111238623A | 公开(公告)日: | 2020-06-05 |
发明(设计)人: | 胡满红;王健;蔡常青;钟瑞麟;王翔;焦凯 | 申请(专利权)人: | 中国计量科学研究院 |
主分类号: | G01G23/01 | 分类号: | G01G23/01 |
代理公司: | 北京德崇智捷知识产权代理有限公司 11467 | 代理人: | 高琦 |
地址: | 100029 *** | 国省代码: | 北京;11 |
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摘要: | 本申请涉及质量测量技术领域,具体涉及一种天平自动检测方法及装置,该方法包括:步骤S110:调整被测天平为水平状态;步骤S120:在被测天平称台上顺序加载组合式砝码,采集被测天平的示值图像;步骤S130:对示值图像进行分析识别并进行显示;步骤S140:调整组合式砝码在被测天平称台上的位置,返回执行步骤S120。解决了相关技术中不能实现各种类型天平的自动全量程检测的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 天平 自动检测 方法 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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