[发明专利]一种用于SiCp/Al复合材料缺陷超声精准定量检测的模拟试块在审
| 申请号： | 202010069106.2 | 申请日： | 2020-01-21 |
| 公开（公告）号： | CN111122713A | 公开（公告）日： | 2020-05-08 |
| 发明（设计）人： | 李通;廉德良 | 申请（专利权）人： | 中国科学院金属研究所 |
| 主分类号： | G01N29/30 | 分类号： | G01N29/30;G01N29/09;G01N29/44;G01N21/88 |
| 代理公司： | 沈阳晨创科技专利代理有限责任公司 21001 | 代理人： | 张晨 |
| 地址： | 110015 辽*** | 国省代码： | 辽宁;21 |
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| 摘要： | 本发明的目的在于提供一种用于SiCp/Al复合材料缺陷超声精确定量的模拟试块及其应用，用于检测铝基复合材料，所述模拟试块包括本体、平底孔和填充物，其中：所述本体呈等宽阶梯状，包括3个以上阶梯，且每个阶梯均设有孔径相同的平底孔，在中间的阶梯上并列设有三个平底孔，其中一个平底孔不填充材料，另两个平底孔分别填充不同的填充物，所述填充物分别为Al柱和SiCp/Al复合材料。该模拟试块对于SiCp/Al复合材料中特有的缺陷类型(SiCp团聚、偏析、Al线)检测效果良好。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 用于 sicp al 复合材料 缺陷 超声 精准 定量 检测 模拟 | ||
【主权项】：
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