[发明专利]双层双D型线圈及基于线圈的缺陷方向检测方法和装置有效
| 申请号： | 202010069316.1 | 申请日： | 2020-01-21 |
| 公开（公告）号： | CN111257409B | 公开（公告）日： | 2022-02-22 |
| 发明（设计）人： | 于亚婷;王伟;张磊;程西蒙;王磊;王振伟 | 申请（专利权）人： | 电子科技大学 |
| 主分类号： | G01N27/90 | 分类号： | G01N27/90;H01F5/00 |
| 代理公司： | 成都虹盛汇泉专利代理有限公司 51268 | 代理人： | 王伟 |
| 地址： | 611731 四川省成*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种双层双D型线圈及基于线圈的金属构件缺陷方向检测方法和装置，线圈包括互相平行的上层线圈和下层线圈，上层线圈和下层线圈的形状都为双D型；上层线圈和下层线圈的最外层半径、线圈匝数和线间距均相等，两个线圈所在平面之间的距离即上下两层线圈之间的距离。检测装置包括激励信号发生模块、双层双D型线圈探头、被测试件、信号放大滤波模块、数据采集和处理模块和缺陷方向定量检测模块。本发明提出了一种双层双D型线圈结构，并基于该结构提出一种金属构件中缺陷方向的定量检测方法与装置，可实现对金属构件中缺陷方向的定量无损检测，为实现缺陷深度和宽度的定量无损检测奠定基础，提高脉冲涡流定量检测金属构件缺陷的精度。 | ||
| 搜索关键词： | 双层 线圈 基于 缺陷 方向 检测 方法 装置 | ||
【主权项】：
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