[发明专利]一种X射线二极管阴极污染程度的检测装置及检测方法有效
| 申请号： | 202010070855.7 | 申请日： | 2020-01-21 |
| 公开（公告）号： | CN111220656B | 公开（公告）日： | 2022-05-17 |
| 发明（设计）人： | 王昆仑;张思群;周少彤 | 申请（专利权）人： | 中国工程物理研究院流体物理研究所 |
| 主分类号： | G01N27/00 | 分类号： | G01N27/00;G01N21/17 |
| 代理公司： | 成都行之专利代理事务所(普通合伙) 51220 | 代理人： | 熊曦 |
| 地址： | 621000*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种X射线二极管阴极污染程度的检测装置及检测方法，紫外灯用于产生光线使得待检测的阴极产生光电效应；真空光电管包括外壳、阴极和阳极；阴极引线一端固定在外壳上，阴极引线另一端穿透外壳与阴极块连接，阴极块封装在外壳内作为紫外响应不发生改变的参考物；阳极引线一端固定在外壳上，阳极引线另一端穿透外壳与阳极片连接，真空检测腔包括腔体和透紫外窗口，腔体具有中空结构，腔体用于安装透紫外窗口和X射线二极管、封闭真空和连接抽真空设备抽取真空；透紫外窗口为能够透过紫外线的方形或圆形板，利用本装置和方法，能够方便地检测X射线二极管阴极污染程度，有助于提高X射线二极管测量软X射线通量的可靠性和准确程度。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 射线 二极管 阴极 污染 程度 检测 装置 方法 | ||
【主权项】：
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