[发明专利]测量方法、测量装置以及记录介质有效
| 申请号： | 202010075382.X | 申请日： | 2020-01-22 |
| 公开（公告）号： | CN111521127B | 公开（公告）日： | 2023-04-07 |
| 发明（设计）人： | 坂本阳平 | 申请（专利权）人： | 仪景通株式会社 |
| 主分类号： | G01B11/24 | 分类号： | G01B11/24 |
| 代理公司： | 北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277 | 代理人： | 刘新宇 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | 本发明提供一种测量方法、测量装置以及记录介质，能够在多个图像中设定测量所使用的多个点。在测量装置中，显示控制部在显示器的第一区域显示一张第一图像。在所述第一图像中设定第一点之后，所述显示控制部将所述第一区域内的所述第一图像设为非显示，并且将一张第二图像显示于所述第一区域。设定部在所述第一图像中设定所述第一点，在所述第二图像中设定第二点。生成部基于摄像机在生成各图像时的位置和姿势，来生成被摄体的三维形状。测量部至少基于所述第一点、所述第二点以及所述三维形状来测量所述被摄体的大小。 | ||
| 搜索关键词： | 测量方法 测量 装置 以及 记录 介质 | ||
【主权项】：
暂无信息
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