[发明专利]一种掩模版缺陷修复方法及装置在审

专利信息
申请号: 202010079423.2 申请日: 2020-02-04
公开(公告)号: CN111399335A 公开(公告)日: 2020-07-10
发明(设计)人: 吴睿轩;韦亚一;董立松 申请(专利权)人: 中国科学院微电子研究所
主分类号: G03F1/72 分类号: G03F1/72;G06N3/12
代理公司: 北京知迪知识产权代理有限公司 11628 代理人: 周娟
地址: 100029 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开一种掩模版缺陷修复方法及装置,涉及光刻技术领域,以快速准确的修复各种图形的掩模版的缺陷,使得掩模版缺陷的修复方式具有普适性。所述掩模版缺陷修复方法包括:接收掩模版的几何结构信息;根据所述掩模版的几何结构信息对掩模版图形进行分段编码,获得图形分段编码;所述图形分段编码包括至少一种图形特征分段编码;采用遗传算法对所述图形分段编码进行优化,获得图形分段编码的优化结果;根据所述图形分段编码的优化结果修复所述掩模版图形的缺陷。所述装置应用于上述技术方案所提的掩模版缺陷修复方法。本发明提供的掩模版缺陷修复方法用于修复掩模版缺陷。
搜索关键词: 一种 模版 缺陷 修复 方法 装置
【主权项】:
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