[发明专利]一步淬灭法荧光检测镉离子的方法在审

专利信息
申请号: 202010095550.1 申请日: 2020-02-17
公开(公告)号: CN113267475A 公开(公告)日: 2021-08-17
发明(设计)人: 周培;刘阳;张东伟;丁济娜;张丹;杨夕佳;詹学佳 申请(专利权)人: 上海交通大学
主分类号: G01N21/64 分类号: G01N21/64
代理公司: 上海交达专利事务所 31201 代理人: 王毓理;王锡麟
地址: 200240 *** 国省代码: 上海;31
权利要求书: 暂无信息 说明书: 暂无信息
摘要: 一种一步淬灭法荧光检测镉离子的方法,通过配制3‑(N‑吗啉)丙磺酸、Cd‑Apt核酸适配体和待测溶液的混合溶液,用酶标仪或荧光仪检测混合液并根据荧光强度差异绘制得到工作曲线,最后采用针对混合溶液的工作曲线进行镉离子即时定量检测。本发明操作简单,即加即测,稳定性好,检出限低,对低浓度(量级为ng/mL)的镉离子具有高灵敏度和高特异性,适用于原位监测环境样本中的镉离子,亦可拓展应用于食物,生物等其他类型样本。
搜索关键词: 一步 淬灭法 荧光 检测 离子 方法
【主权项】:
暂无信息
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