[发明专利]一种基于干涉的光束轨道角动量谱分析方法与装置有效

专利信息
申请号: 202010095640.0 申请日: 2020-02-17
公开(公告)号: CN111238634B 公开(公告)日: 2020-12-15
发明(设计)人: 付时尧;高春清 申请(专利权)人: 北京理工大学
主分类号: G01J1/00 分类号: G01J1/00;G01J3/00;G01J11/00;G02B27/28
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 100081 *** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种基于干涉的光束轨道角动量谱分析方法与装置。引入一参考高斯光束,使其与待测光束同轴干涉,通过干涉场的二维光场分布,以及待测光束和参考光束的二维光场分布,可反推出待测光束的复振幅,进而采用螺旋谐波展开的方式直接计算出待测光束的轨道角动量谱。本发明的工作原理完全依照轨道角动量谱的定义展开,使得本发明的方法适用于任何激光束,不受待测光束光场分布的制约。此外本发明的装置结构简单而稳定,易于小型化,方便携带,能有效的应用于各种不同的应用场景中。
搜索关键词: 一种 基于 干涉 光束 轨道角动量 谱分析 方法 装置
【主权项】:
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