[发明专利]提供多个检测信号的ESD保护电路在审
| 申请号： | 202010098135.1 | 申请日： | 2020-02-18 |
| 公开（公告）号： | CN111585262A | 公开（公告）日： | 2020-08-25 |
| 发明（设计）人： | 蒙国轩;J·W·米勒 | 申请（专利权）人： | 恩智浦美国有限公司 |
| 主分类号： | H02H9/04 | 分类号： | H02H9/04;G01R31/28 |
| 代理公司： | 中国国际贸易促进委员会专利商标事务所 11038 | 代理人： | 张小稳 |
| 地址： | 美国得*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本公开涉及提供多个检测信号的ESD保护电路。ESD保护电路包括用于检测ESD事件的检测电路。所述检测电路包括两个电流镜，每个电流镜用于提供两个检测信号。所述ESD保护电路包括驱动电路系统，所述驱动电路系统基于来自所述电流镜的所述检测信号响应于ESD事件产生到箝位电路的触发信号，使所述箝位电路导电。 | ||
| 搜索关键词： | 提供 检测 信号 esd 保护 电路 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于恩智浦美国有限公司，未经恩智浦美国有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010098135.1/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：冲击吸收构件及制造冲击吸收构件的方法
- 下一篇：半导体装置及其制造方法
