[发明专利]一种光电靶标式结构位移测量方法、装置及存储介质在审
| 申请号： | 202010098427.5 | 申请日： | 2020-02-18 |
| 公开（公告）号： | CN111256595A | 公开（公告）日： | 2020-06-09 |
| 发明（设计）人： | 周逸;樊仕建;唐建辉;苗秀鹏;王鑫 | 申请（专利权）人： | 重庆亚派桥梁工程质量检测有限公司 |
| 主分类号： | G01B11/02 | 分类号： | G01B11/02;G06T7/66;G06T7/90 |
| 代理公司： | 重庆智慧之源知识产权代理事务所(普通合伙) 50234 | 代理人： | 余洪 |
| 地址： | 401123 重庆市渝*** | 国省代码： | 重庆;50 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种光电靶标式结构位移测量方法、装置及存储介质，包括：读取配置信息，接收位移采集指令，启动图像采集设备并获取视频图像流；电源控制按测点配置打开单测点对应光源的电源；获取单测点光斑图像；对图像进行处理，并做位移标定，计算标定值；找到光斑中心坐标并与初始坐标进行比较，根据标定值计算得出该测点的位移测量值；存储该测点的位移值至存储设备，电源控制关闭当前测点光源的电源；检测是否还有其他测点，若是，则返回S2，若否，则关闭相关设备。本发明提供的一种光电靶标式结构位移测量方法、装置及存储介质，能够满足自动高效、精确可靠的测量需求，并能测量水平及垂直方向的位移变化量。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 光电 靶标 结构 位移 测量方法 装置 存储 介质 | ||
【主权项】：
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