[发明专利]基于光场信息去除光学像差的方法及装置有效

专利信息
申请号: 202010099885.0 申请日: 2020-02-18
公开(公告)号: CN111402127B 公开(公告)日: 2022-07-19
发明(设计)人: 戴琼海;张亿;季向阳;吴嘉敏 申请(专利权)人: 清华大学
主分类号: G06T3/40 分类号: G06T3/40;G06T7/70;G06T17/00
代理公司: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 王艳斌
地址: 10008*** 国省代码: 北京;11
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摘要: 发明公开了一种基于光场信息去除光学像差的方法及装置,其中,该方法包括:获取荧光样本的光场图像,将光场图像重排得到荧光样本不同角度下的子孔径图像;计算各个子孔径图像相对于中心孔径图像的位移量,根据计算出的位移量得到一张位移图,根据位移图计算相应频域面上的相位并得到相位图;对相位图进行处理得到正确相位图,将正确相位图加入点扩散函数的仿真中,得到新的子孔径点扩散函数,根据新的子孔径点扩散函数解得荧光样本正确的三维信息。该方法可以消除光学系统像差与环境样本带来的空间不一致的像差,利用光场信息进行准确的三维重建,不需要标定点扩散函数,简化重建过程。
搜索关键词: 基于 信息 去除 光学 方法 装置
【主权项】:
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