[发明专利]提高氮化铝材料晶体质量的外延生长方法及氮化铝材料在审

专利信息
申请号: 202010103574.7 申请日: 2020-02-20
公开(公告)号: CN113279054A 公开(公告)日: 2021-08-20
发明(设计)人: 孙钱;黄应南;刘建勋;孙秀建;詹晓宁;高宏伟;杨辉 申请(专利权)人: 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所
主分类号: C30B25/04 分类号: C30B25/04;C30B25/18;C30B29/38;C23C16/34;C23C16/44;C23C16/04
代理公司: 南京利丰知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 32256 代理人: 王茹;王锋
地址: 215123 江苏省苏州市*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明公开了一种提高氮化铝材料晶体质量的外延生长方法及氮化铝材料。所述提高氮化铝材料晶体质量的外延生长方法包括:在衬底上生长形成氮化铝底层,在所述氮化铝底层上生长氮化铝孔洞形成层,同时在氮化铝孔洞形成层内形成复数个孔洞;在所述氮化铝孔洞形成层上生长氮化铝合并层,并使形成氮化铝合并层的材料在各孔洞顶部合并而原位形成空洞,且使所述空洞被包裹在氮化铝合并层内部,从而使在所述空洞之上形成的外延层具有平整无裂纹的表面。本发明的提高AlN材料质量的外延生长方法具有降低位错密度效果显著、可以同时抑制裂纹、工艺简单、适应性广等许多优点,从而生长更厚的无裂纹、高质量的AlN材料,完全适合应用于商业化生产。
搜索关键词: 提高 氮化 材料 晶体 质量 外延 生长 方法
【主权项】:
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