[发明专利]一种背照式BIB红外探测器硅外延片的制造方法在审

专利信息
申请号: 202010106370.9 申请日: 2020-02-21
公开(公告)号: CN111384212A 公开(公告)日: 2020-07-07
发明(设计)人: 韩旭;邓雪华;尤晓杰 申请(专利权)人: 南京国盛电子有限公司
主分类号: H01L31/18 分类号: H01L31/18;H01L31/101;H01L31/0352
代理公司: 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 代理人: 张弛
地址: 210000 江苏省南京*** 国省代码: 江苏;32
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摘要: 发明涉及一种背照式BIB红外探测器用硅外延片的制造方法,选择N型100掺PH抛光片,电阻率>10000Ω.cm,不背封衬底,减少衬底自掺杂影响。通过HCL原位高温抛光,以去除表面杂质和缺陷,改善衬底表面质量。通过大流量高温吹除工艺,减少炉腔内自掺杂影响。使用两步三层外延法,背电极层、低阻吸收层同步生长,本征阻挡层分步生长,两步之间大流量H2降温吹除;本征层外延装片前大流量气腐腔体,外延时低速低温生长。本发明通过特殊工艺,在高阻衬底上,制备出了薄层低浓度的背电极层,通过控制自掺杂使得过渡区较为陡直,且本征阻挡层有较宽平区,满足BIB器件设计的要求。
搜索关键词: 一种 背照式 bib 红外探测器 外延 制造 方法
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