[发明专利]一种背照式BIB红外探测器硅外延片的制造方法在审
申请号: | 202010106370.9 | 申请日: | 2020-02-21 |
公开(公告)号: | CN111384212A | 公开(公告)日: | 2020-07-07 |
发明(设计)人: | 韩旭;邓雪华;尤晓杰 | 申请(专利权)人: | 南京国盛电子有限公司 |
主分类号: | H01L31/18 | 分类号: | H01L31/18;H01L31/101;H01L31/0352 |
代理公司: | 南京苏高专利商标事务所(普通合伙) 32204 | 代理人: | 张弛 |
地址: | 210000 江苏省南京*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | 本发明涉及一种背照式BIB红外探测器用硅外延片的制造方法,选择N型100掺PH抛光片,电阻率>10000Ω.cm,不背封衬底,减少衬底自掺杂影响。通过HCL原位高温抛光,以去除表面杂质和缺陷,改善衬底表面质量。通过大流量高温吹除工艺,减少炉腔内自掺杂影响。使用两步三层外延法,背电极层、低阻吸收层同步生长,本征阻挡层分步生长,两步之间大流量H2降温吹除;本征层外延装片前大流量气腐腔体,外延时低速低温生长。本发明通过特殊工艺,在高阻衬底上,制备出了薄层低浓度的背电极层,通过控制自掺杂使得过渡区较为陡直,且本征阻挡层有较宽平区,满足BIB器件设计的要求。 | ||
搜索关键词: | 一种 背照式 bib 红外探测器 外延 制造 方法 | ||
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L31-00 对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射,或微粒辐射敏感的,并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或者专门适用于通过这样的辐射进行电能控制的半导体器件;专门适用于制造或处理这些半导体器件或其部件的方法或
H01L31-02 .零部件
H01L31-0248 .以其半导体本体为特征的
H01L31-04 .用作转换器件的
H01L31-08 .其中的辐射控制通过该器件的电流的,例如光敏电阻器
H01L31-12 .与如在一个共用衬底内或其上形成的,一个或多个电光源,如场致发光光源在结构上相连的,并与其电光源在电气上或光学上相耦合的
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