[发明专利]晶棒生长控制方法以及控制系统有效
申请号: | 202010107769.9 | 申请日: | 2020-02-21 |
公开(公告)号: | CN113293433B | 公开(公告)日: | 2022-08-16 |
发明(设计)人: | 温雅楠;金光勲 | 申请(专利权)人: | 上海新昇半导体科技有限公司 |
主分类号: | C30B15/20 | 分类号: | C30B15/20;C30B29/06 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 施婷婷 |
地址: | 201306 上海市浦东*** | 国省代码: | 上海;31 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 本发明提供一种晶棒生长控制方法以及控制系统,所述晶棒生长温度优化方法至少包括:设定目标晶棒直径、目标提拉速度以及目标生长温度;检测实际晶棒直径并根据所述实际晶棒直径调整提拉速度,形成实际提拉速度,并将所述实际提拉速度与所述目标提拉速度进行比较;当所述实际提拉速度与所述目标提拉速度的差值超出偏差范围时,对目标生长温度进行调整,形成新目标生长温度;重复以上步骤,直至完成晶棒生长。本发明通过在晶棒生长过程中对晶体生长温度的实时校正,减小实际生长温度与目标温度之间的差距,实现晶体生长过程中的精细化控制,有助于提高晶体生长质量以及产量。 | ||
搜索关键词: | 生长 控制 方法 以及 控制系统 | ||
【主权项】:
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于上海新昇半导体科技有限公司,未经上海新昇半导体科技有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/patent/202010107769.9/,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:一种用于电缆耐化学试剂测试的试验设备及方法
- 下一篇:电动汽车充电控制方法