[发明专利]芯片推力测试方法在审
| 申请号： | 202010114622.2 | 申请日： | 2020-02-25 |
| 公开（公告）号： | CN111289433A | 公开（公告）日： | 2020-06-16 |
| 发明（设计）人： | 彭涛;丁勇 | 申请（专利权）人： | 佛山市诺普材料科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N19/04 | 分类号： | G01N19/04;G01M13/00;G01B7/00;G01B11/00 |
| 代理公司： | 广州市越秀区哲力专利商标事务所(普通合伙) 44288 | 代理人： | 舒剑晖 |
| 地址： | 528000 广东省佛山*** | 国省代码： | 广东;44 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明公开了一种芯片推力测试方法，使用芯片推力测试设备对芯片进行推力测试，该设备包括基座，以及安装于基座上的夹具、推力测试仪、第一X向横移驱动机构、Z向升降驱动机构以及指示装置，该方法包括起点位置确定步骤、施力点确定步骤；起点位置确定步骤：使推力测试仪靠近位于夹具上的支架，直至推力测试仪上的顶针与支架的顶面接触为止，以点亮指示灯，此时顶针所在的位置为起点位置；施力点确定步骤：以上述起点位置为参考点，促使推力测试仪向上移动设定位移，并使推力测试仪靠近芯片的侧部，直至顶针与芯片的侧部接触，此时顶针所在的位置为施力点位置。其可实现精准定位，能够提高检测精度的同时，还可提高检测效率，从而降低成本。 | ||
| 搜索关键词： | 芯片 推力 测试 方法 | ||
【主权项】：
暂无信息
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于佛山市诺普材料科技有限公司，未经佛山市诺普材料科技有限公司许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/patent/202010114622.2/，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种用于消化内镜下微创手术的持针钳
- 下一篇：显示面板以及显示装置
