[发明专利]半导体装置有效
申请号: | 202010115755.1 | 申请日: | 2020-02-25 |
公开(公告)号: | CN111668300B | 公开(公告)日: | 2023-10-13 |
发明(设计)人: | 梅本康成;大部功;井手野馨;小屋茂树 | 申请(专利权)人: | 株式会社村田制作所 |
主分类号: | H01L29/735 | 分类号: | H01L29/735;H01L29/417;H01L29/423 |
代理公司: | 北京集佳知识产权代理有限公司 11227 | 代理人: | 王玮;张丰桥 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | 本发明提供了半导体装置,能够使迁移电压增大而扩大SOA。在基板上配置有集电极层、基极层、发射极层,在发射极层的一部分的区域上配置有发射极台面层。在俯视时在与发射极台面层不重叠的区域配置有基极电极。基极电极向基极层流过基极电流。在俯视时,发射极台面层的边缘的一部分即第1边缘沿第1方向延伸,基极电极的边缘的一部分即第2边缘与第1边缘对置,发射极台面层的、位于第1方向的一个端部侧的末端部分的第1边缘与第2边缘的间隔比发射极台面层的中间部分的间隔大。 | ||
搜索关键词: | 半导体 装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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