[发明专利]一种基于谱聚类的软件缺陷特征选择方法在审
| 申请号： | 202010116211.7 | 申请日： | 2020-02-25 |
| 公开（公告）号： | CN111338950A | 公开（公告）日： | 2020-06-26 |
| 发明（设计）人： | 严亮;许嘉熙;艾骏 | 申请（专利权）人： | 北京高质系统科技有限公司;北京航空航天大学 |
| 主分类号： | G06F11/36 | 分类号： | G06F11/36;G06K9/62 |
| 代理公司： | 北京中索知识产权代理有限公司 11640 | 代理人： | 胡大成 |
| 地址： | 101204 北京市平谷区*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种基于谱聚类的软件缺陷特征选择方法，包括如下步骤：导入待进行特征选择的软件缺陷数据集，并提取软件缺陷预测特征集；剔除软件缺陷预测特征集中的无关特征；建立特征间相关性矩阵；基于谱聚类对特征集进行聚类分析，得到若干组高内聚低耦合的特征簇；计算出特征簇中每个特征的质量系数，依照特征质量系数对特征进行排序，将排序结果作为特征前项选择的搜索顺序，并选择机器学习性能最佳的特征子集作为软件缺陷特征集。该方法解决了主流特征选择方法无法兼顾无关特征和冗余特征排除、特征选择算法性能随特征数量增加而迅速下降、选择出的特征子集通用性不强、用于预测效果不好等缺陷。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 基于 谱聚类 软件 缺陷 特征 选择 方法 | ||
【主权项】：
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