[发明专利]母线电容老化测试方法、装置、计算机设备及存储介质有效
| 申请号： | 202010123096.6 | 申请日： | 2020-02-27 |
| 公开（公告）号： | CN111273102B | 公开（公告）日： | 2020-12-08 |
| 发明（设计）人： | 王远航;王春辉;周健;黄创绵;李小兵;孟苓辉;丁小健;梁超;陆树汉;董成举;杨剑锋;刘文威 | 申请（专利权）人： | 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） |
| 主分类号： | G01R31/00 | 分类号： | G01R31/00;G01R27/26 |
| 代理公司： | 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 | 代理人： | 黄丽霞 |
| 地址： | 511300 广东省*** | 国省代码： | 广东;44 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种母线电容老化测试方法、装置、计算机设备及存储介质，涉及伺服驱动技术领域，该母线电容老化测试方法包括：控制所述伺服驱动电路进行功率消耗，在伺服驱动电路进行功率消耗的过程中，控制电路周期性地控制功率驱动电路停止运行，控制电路控制放电电路对母线电容进行放电，并控制电容检测电路采集母线电容在放电过程中的电压数据；对于每次采集到的电压数据，根据电压数据确定母线电容的容值；根据每次确定的母线电容的容值确定母线电容的老化测试结果。在伺服驱动电路工作过程中，周期性地对母线电容的进行老化测试，将母线电容的老化测试放入伺服驱动电路这一实际工作场景中进行，因此，对老化测试的测试结果更准确。 | ||
| 搜索关键词： | 母线 电容 老化 测试 方法 装置 计算机 设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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