[发明专利]测量弧斑面积的方法及装置在审
| 申请号： | 202010124622.0 | 申请日： | 2020-02-27 |
| 公开（公告）号： | CN111336953A | 公开（公告）日： | 2020-06-26 |
| 发明（设计）人： | 刘源;袁竭 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | G01B11/28 | 分类号： | G01B11/28 |
| 代理公司： | 北京华进京联知识产权代理有限公司 11606 | 代理人： | 王勤思 |
| 地址： | 100084*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种测量弧斑面积的方法，包括以下步骤：在平行光源下，采用光学相机拍摄弧斑样品，获取所述弧斑样品照片；使用图像处理软件处理所述弧斑样品照片中相对明亮的区域，并统计所述相对明亮区域的像素个数；以及采用标尺计算面积和像素个数之间的对应关系，通过所述对应关系计算所述相对明亮区域的像素个数相对应的面积即为弧斑面积。本发明还涉及一种测量弧斑面积的装置。 | ||
| 搜索关键词： | 测量 面积 方法 装置 | ||
【主权项】：
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