[发明专利]目标近场微波成像测试中的图像聚焦方法、装置及系统有效
| 申请号： | 202010124775.5 | 申请日： | 2020-02-27 |
| 公开（公告）号： | CN111257877B | 公开（公告）日： | 2022-02-11 |
| 发明（设计）人： | 吕鸣;候浩浩;高超;刘芳;赵轶伦 | 申请（专利权）人： | 北京环境特性研究所 |
| 主分类号： | G01S13/90 | 分类号： | G01S13/90;G01S7/40;G01R29/08;G01S19/42 |
| 代理公司： | 北京格允知识产权代理有限公司 11609 | 代理人： | 杨洋 |
| 地址： | 100854*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及目标近场电磁散射特性测试与诊断技术领域，提供了一种目标近场微波成像测试中的图像聚焦方法、装置及系统，该方法包括以下步骤：构建目标近场微波成像测试系统，包括：被测目标、测量装置、运动平台、GPS系统、金属球；控制运动平台绕被测目标的中心运动，并利用GPS系统记录运动平台的位置，同时控制测量装置进行扫频测试，并采集扫频测试数据；计算金属球与运动平台之间的参考距离及测量距离，根据该参考距离和测量距离得到相位校正因子；根据所述相位校正因子对所述目标扫频测试数据进行补偿，并进行成像处理，得到聚焦后的目标二维微波图像。本发明方法能够消除因运动平台的移动误差引起的目标二维微波图像散焦现象。 | ||
| 搜索关键词： | 目标 近场 微波 成像 测试 中的 图像 聚焦 方法 装置 系统 | ||
【主权项】：
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