[发明专利]一种性能测试方法、装置、电子设备及存储介质有效
| 申请号： | 202010125685.8 | 申请日： | 2020-02-27 |
| 公开（公告）号： | CN111431759B | 公开（公告）日： | 2022-02-25 |
| 发明（设计）人： | 田欧 | 申请（专利权）人： | 北京达佳互联信息技术有限公司 |
| 主分类号： | H04L43/50 | 分类号： | H04L43/50;H04J3/06 |
| 代理公司： | 北京同达信恒知识产权代理有限公司 11291 | 代理人： | 朱佳 |
| 地址： | 100085 北京市海淀*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及通信技术领域，尤其涉及一种性能测试方法、装置、电子设备及存储介质。方法包括：主控服务器确定待测试服务器的查询频率，并基于所述查询频率选择发压服务器的类型及数目，然后至少基于选择的各个发压服务器的类型及数目，确定所述各个发压服务器对应的配置信息，再将获得的各个配置信息分别发送至相应的发压服务器，令所述各个发压服务器在相应的时间戳信息对应的目标时间点，将获得的查询请求样本信息发送至所述待测试服务器。这样，能够在查询请求样本总量有限的情况下，有效保证性能测试的测试质量，避免了由于发压服务器施加查询请求样本时间不同步造成的测试结果不准确的问题，有效提高了性能测试的成功率。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 性能 测试 方法 装置 电子设备 存储 介质 | ||
【主权项】：
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