[发明专利]单色及多色光X射线的单晶/定向晶应力测量系统和方法在审
| 申请号： | 202010126225.7 | 申请日： | 2020-02-27 |
| 公开（公告）号： | CN111238707A | 公开（公告）日： | 2020-06-05 |
| 发明（设计）人： | 陈凯;朱文欣 | 申请（专利权）人： | 西安交通大学 |
| 主分类号： | G01L5/00 | 分类号： | G01L5/00 |
| 代理公司： | 北京中济纬天专利代理有限公司 11429 | 代理人： | 覃婧婵 |
| 地址： | 710049 *** | 国省代码： | 陕西;61 |
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| 摘要： | 本发明公开了一种单色及多色光X射线的单晶/定向晶应力测量系统和测量方法，测量系统中，包括：多轴样品台，样品台控制器，多色光X射线发生器，单色光X射线发生器，X射线探测器，共心点调整模块，计算储存模块，控制模块。测量方法中，包括：调节样品表面到共心点；多色光X射线发生器产生多色光X射线，样品曝光，X射线探测器采集衍射峰信号；基于采集到的衍射峰信号，计算储存模块计算样品取向；多轴样品台驱动处于共心点的样品表面旋转和倾转，单色X射线发生器照射样品表面，采集模块采集样品表面的衍射峰信号；基于采集到的衍射峰信号，计算储存模块计算应力数据。 | ||
| 搜索关键词： | 单色 多色 射线 定向 应力 测量 系统 方法 | ||
【主权项】：
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