[发明专利]响应时间测试方法、响应时间测试装置和电子设备有效
| 申请号： | 202010127843.3 | 申请日： | 2020-02-28 |
| 公开（公告）号： | CN111352817B | 公开（公告）日： | 2023-04-07 |
| 发明（设计）人： | 刘华丽;黄琦;沈惠玲;邱恺 | 申请（专利权）人： | 北京百度网讯科技有限公司 |
| 主分类号： | G06F11/34 | 分类号： | G06F11/34;G06T7/00 |
| 代理公司： | 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 | 代理人： | 许静;黄灿 |
| 地址： | 100085 北京市*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本申请公开了一种响应时间测试方法、响应时间测试装置和电子设备，涉及性能测试技术领域。其中方法包括：获取待测任务响应过程中的图片序列；对所述图片序列中任意图片组进行差值处理，得到差值序列；从所述差值序列中确定差值突变区间；将所述差值突变区间对应的时间长度确定为所述待测任务的响应时间。本申请中，由于差值突变区间能够更加真实地反映待测任务从响应起点至响应终点的整个响应过程，从而能够提高响应时间测试结果的精确性。并且，由于差值突变区间具有较好的自适应性和稳定性，能够适用于各种测试场景或测试设备，从而使得待测任务响应时间的测试具备更好的鲁棒性、通用性和易扩展性。 | ||
| 搜索关键词： | 响应 时间 测试 方法 装置 电子设备 | ||
【主权项】：
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