[发明专利]一种荧光颗粒物检测装置及方法有效

专利信息
申请号: 202010129818.9 申请日: 2020-02-28
公开(公告)号: CN111272639B 公开(公告)日: 2022-10-28
发明(设计)人: 曾楠;许启之;何永红;马辉 申请(专利权)人: 清华大学深圳国际研究生院
主分类号: G01N15/10 分类号: G01N15/10;G01N21/64
代理公司: 深圳新创友知识产权代理有限公司 44223 代理人: 江耀纯
地址: 518055 广东省深圳市*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 发明提供一种荧光颗粒物检测装置及方法,装置包括:激光源,用于发出激光;波长选择单元,与激光源连接,用于动态调整激光源发出的激光的波长;聚焦单元,与所激光源连接,用于将激光聚焦为片光;起偏单元,与聚焦单元连接,用于调制片光的偏振态;颗粒物测试区,设置在起偏单元之后,用于待测空气样品通过;探测单元,包括对称设置在颗粒物测试区四周的探测子单元,用于探测流过颗粒物测试区的待测空气样品中的颗粒物对激光散射后不同角度的偏振散射光强度信息和荧光强度信息;计算处理单元和光谱解调单元与探测单元连接,分别用于分析颗粒物的荧光特征和偏振特征、光谱解调得到光谱信息。可以得到初步荧光分类信息,及更细致的光谱信息。
搜索关键词: 一种 荧光 颗粒 检测 装置 方法
【主权项】:
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