[发明专利]键合头、键合设备和键合方法有效

专利信息
申请号: 202010130971.3 申请日: 2020-02-28
公开(公告)号: CN113327868B 公开(公告)日: 2023-05-30
发明(设计)人: 郭耸;朱鸷 申请(专利权)人: 上海微电子装备(集团)股份有限公司
主分类号: H01L21/67 分类号: H01L21/67;H01L21/60
代理公司: 北京品源专利代理有限公司 11332 代理人: 孟金喆
地址: 201203 上海市浦*** 国省代码: 上海;31
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摘要: 发明公开了一种键合头、键合设备和键合方法。该键合头包括至少一个键合头组件;键合头组件包括压头、加压电极和压力检测单元,压头包括压电材料,压头用于压合芯片,加压电极与压头连接,加压电极用于为压头提供交流电压,以使压头在压合方向上产生变形,压力检测单元用于在芯片键合时检测压头对芯片的压力。通过调节加压电极为压头提供交流电压的大小可以调节压头压合芯片的压力,并通过压力检测单元检测压头对芯片的压力,从而可以降低键合头的成本,减小了键合头的质量和体积,有利于提高键合设备的产率和键合精度。而且,键合头组件的体积减小,可以有利于实现多个芯片的批量键合,提高键合设备的键合效率。
搜索关键词: 键合头 设备 方法
【主权项】:
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