[发明专利]键合头、键合设备和键合方法有效
申请号: | 202010130971.3 | 申请日: | 2020-02-28 |
公开(公告)号: | CN113327868B | 公开(公告)日: | 2023-05-30 |
发明(设计)人: | 郭耸;朱鸷 | 申请(专利权)人: | 上海微电子装备(集团)股份有限公司 |
主分类号: | H01L21/67 | 分类号: | H01L21/67;H01L21/60 |
代理公司: | 北京品源专利代理有限公司 11332 | 代理人: | 孟金喆 |
地址: | 201203 上海市浦*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | 本发明公开了一种键合头、键合设备和键合方法。该键合头包括至少一个键合头组件;键合头组件包括压头、加压电极和压力检测单元,压头包括压电材料,压头用于压合芯片,加压电极与压头连接,加压电极用于为压头提供交流电压,以使压头在压合方向上产生变形,压力检测单元用于在芯片键合时检测压头对芯片的压力。通过调节加压电极为压头提供交流电压的大小可以调节压头压合芯片的压力,并通过压力检测单元检测压头对芯片的压力,从而可以降低键合头的成本,减小了键合头的质量和体积,有利于提高键合设备的产率和键合精度。而且,键合头组件的体积减小,可以有利于实现多个芯片的批量键合,提高键合设备的键合效率。 | ||
搜索关键词: | 键合头 设备 方法 | ||
【主权项】:
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
H01L21-66 .在制造或处理过程中的测试或测量
H01L21-67 .专门适用于在制造或处理过程中处理半导体或电固体器件的装置;专门适合于在半导体或电固体器件或部件的制造或处理过程中处理晶片的装置
H01L21-70 .由在一共用基片内或其上形成的多个固态组件或集成电路组成的器件或其部件的制造或处理;集成电路器件或其特殊部件的制造
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L21-00 专门适用于制造或处理半导体或固体器件或其部件的方法或设备
H01L21-02 .半导体器件或其部件的制造或处理
H01L21-64 .非专门适用于包含在H01L 31/00至H01L 51/00各组的单个器件所使用的除半导体器件之外的固体器件或其部件的制造或处理
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