[发明专利]CT散射校正方法及系统有效
| 申请号： | 202010133896.6 | 申请日： | 2020-02-28 |
| 公开（公告）号： | CN111643104B | 公开（公告）日： | 2022-03-18 |
| 发明（设计）人： | 高河伟;邢宇翔;陈志强;张丽;李亮;张涛;周浩 | 申请（专利权）人： | 清华大学 |
| 主分类号： | A61B6/03 | 分类号： | A61B6/03 |
| 代理公司： | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人： | 吴梦圆 |
| 地址： | 100084*** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 一种CT散射校正方法及系统，该CT散射校正方法包括：基于预先建立的投影数据值与散射值映射关系查找表和测量的投影值得到散射估计值，映射关系中的所述散射值为经过能谱校正后的散射值；或者基于能谱物理对散射值的分布函数进行校正后迭代求解得到散射估计值。上述方法通过在散射估计过程中加入能谱校正的因素，基于能谱硬化对于散射分布影响的不同假设，按照迭代求解的方式或者基于散射遮挡硬件测量的方式可以得到能谱校正后的散射估计值，对于硬件的要求不高，同时还具有迭代效率高、计算准确度较高的优点。 | ||
| 搜索关键词： | ct 散射 校正 方法 系统 | ||
【主权项】：
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