[发明专利]存储器器件在审
| 申请号： | 202010136330.9 | 申请日： | 2020-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN112786644A | 公开（公告）日： | 2021-05-11 |
| 发明（设计）人： | 吴昭谊 | 申请（专利权）人： | 台湾积体电路制造股份有限公司 |
| 主分类号： | H01L27/24 | 分类号： | H01L27/24;H01L45/00 |
| 代理公司： | 北京派特恩知识产权代理有限公司 11270 | 代理人： | 薛恒;王琳 |
| 地址： | 中国台湾新竹科*** | 国省代码： | 台湾;71 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | 本发明实施例涉及一种存储器器件。存储器器件包含上覆于衬底的相变元件(PCE)。底部电极通孔安置于衬底上方。顶部电极上覆于底部电极通孔。相变元件安置于底部电极通孔与顶部电极之间。相变元件包括硫族化物材料。硫族化物材料包括第一原子百分比的第一元素、第二原子百分比的硫族元素以及第三原子百分比的第一掺杂剂。第三原子百分比小于第一原子百分比且小于第二原子百分比。 | ||
| 搜索关键词： | 存储器 器件 | ||
【主权项】：
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H01 基本电气元件
H01L 半导体器件；其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的；包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的，或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的；包括有热磁组件的
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