[发明专利]一种GaN器件动态导通电阻测量电路有效
申请号: | 202010139474.X | 申请日: | 2020-03-03 |
公开(公告)号: | CN111289799B | 公开(公告)日: | 2021-01-08 |
发明(设计)人: | 周琦;刘熙;叶星宁;陈涛;李佳;张波 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | G01R27/08 | 分类号: | G01R27/08;G01R31/26 |
代理公司: | 成都点睛专利代理事务所(普通合伙) 51232 | 代理人: | 孙一峰 |
地址: | 611731 四川省*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | 本发明属于电子电路技术领域,涉及一种GaN器件动态导通电阻测量电路。本发明从GaN应用中所紧密相关的动态特性出发,测试电路包括驱动电路、软硬开关转换电路以及钳位电路;驱动电路以ADuM4223为核心;开关转换电路包括两个高压功率器件和负载电感以及起保护作用的二极管;钳位电路采用电流镜和二极管结合的方式提高测量精度,使用钳位电路测得的导通电压,除以电路中的电流即可得到动态导通电阻。本发明的测试方法可对器件在两个不同开关过程中的动态导通电阻进行实时测量,避免了器件停止工作后几秒内缺陷恢复导致测量结果不精确的问题。 | ||
搜索关键词: | 一种 gan 器件 动态 通电 测量 电路 | ||
【主权项】:
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