[发明专利]一种AOI缺陷检测方法在审
| 申请号： | 202010141504.0 | 申请日： | 2020-03-04 |
| 公开（公告）号： | CN111223093A | 公开（公告）日： | 2020-06-02 |
| 发明（设计）人： | 詹东旭;张胜森;郑增强 | 申请（专利权）人： | 武汉精立电子技术有限公司;武汉精测电子集团股份有限公司 |
| 主分类号： | G06T7/00 | 分类号： | G06T7/00;G06T7/13 |
| 代理公司： | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 | 代理人： | 胡琦旖 |
| 地址： | 430205 湖北省武*** | 国省代码： | 湖北;42 |
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| 摘要： | 本发明属于显示面板自动光学检测技术领域，公开了一种AOI缺陷检测方法，建立缺陷检测模型，缺陷检测模型包括生成器网络和判别器网络，缺陷检测模型用于获得缺陷相关信息；利用正样本建立训练集，利用训练集训练生成器网络和判别器网络；利用训练获得的生成器网络和判别器网络更新缺陷检测模型，获得更新后的缺陷检测模型；采集待检测面板图像；将待检测面板图像输入至更新后的缺陷检测模型中，进行缺陷检测，并获得缺陷检测信息。本发明解决了现有技术中基于监督式学习的面板缺陷检测方法存在的漏检明显异常区域、大量正样本利用不充分、负样本少的问题，能够提高整个AOI系统的缺陷检出能力，降低检测成本。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 aoi 缺陷 检测 方法 | ||
【主权项】：
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