[发明专利]一种集成BGO晶体光波导的闭环电场检测系统在审

专利信息
申请号: 202010141723.9 申请日: 2020-03-04
公开(公告)号: CN111337759A 公开(公告)日: 2020-06-26
发明(设计)人: 王瑾;陈秋荻;杨铭;张宇;胡煌;龙丹;韩炎晖 申请(专利权)人: 中国地质大学(武汉);北京东方计量测试研究所
主分类号: G01R29/12 分类号: G01R29/12
代理公司: 武汉知产时代知识产权代理有限公司 42238 代理人: 郝明琴
地址: 430000 湖*** 国省代码: 湖北;42
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摘要: 发明公开了一种集成BGO晶体光波导的闭环电场检测系统,包括宽谱光源超辐射发光二极管、三端口环形器、起偏器、相位调制器、准直器、法拉第旋光镜、BGO集成光波导电场传感器、光电探测器、信号处理单元、保偏光纤,本发明采用飞秒激光技术加工制作反射式非对称的BGO晶体集成光波导结构,减小了基于Pockels效应的BGO晶体电场传感器的体积;采用闭环检测系统,通过光波导结构参数设计和方波相位调制,将系统的静态工作点控制在线性部分,可以提高电场测量系统的灵敏度,消除外界环境因素带来的误差相位差;采用阶梯波调制产生反馈相位差,可以进一步减小系统的非线性误差,同时增大系统的动态范围。
搜索关键词: 一种 集成 bgo 晶体 波导 闭环 电场 检测 系统
【主权项】:
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