[发明专利]光掩模的修正方法及修正装置、带保护膜的光掩模的制造方法、显示装置的制造方法在审
申请号: | 202010143020.X | 申请日: | 2020-03-04 |
公开(公告)号: | CN111665681A | 公开(公告)日: | 2020-09-15 |
发明(设计)人: | 宫崎由宽 | 申请(专利权)人: | HOYA株式会社 |
主分类号: | G03F1/72 | 分类号: | G03F1/72;G03F1/76;G03F1/48 |
代理公司: | 北京三友知识产权代理有限公司 11127 | 代理人: | 朱丽娟;崔成哲 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | 提供光掩模的修正方法及修正装置、带保护膜的光掩模的制造方法、显示装置的制造方法,能够在不从光掩模卸下保护膜的情况下对转印用图案的缺陷进行修正。一种光掩模的修正方法,对光掩模的转印用图案中所产生的缺陷进行修正,该光掩模在透明基板的主表面上具有所述转印用图案,其中,该光掩模的修正方法具有成膜工序,在该成膜工序中,在所述光掩模上粘贴有保护膜的状态下,将原料气体导入到由所述光掩模和所述保护膜形成的保护膜空间中,并且透过所述保护膜具有的保护膜膜体朝缺陷部位照射激光,使所述原料气体发生反应,由此使修正膜堆积在所述缺陷部位。 | ||
搜索关键词: | 光掩模 修正 方法 装置 保护膜 制造 显示装置 | ||
【主权项】:
暂无信息
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G03 摄影术;电影术;利用了光波以外其他波的类似技术;电记录术;全息摄影术
G03F 图纹面的照相制版工艺,例如,印刷工艺、半导体器件的加工工艺;其所用材料;其所用原版;其所用专用设备
G03F1-00 用于图纹面的照相制版的原版,例如掩膜,光掩膜;其所用空白掩膜或其所用薄膜;其专门适用于此的容器;其制备
G03F1-20 .用于通过带电粒子束(CPB)辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如通过电子束;其制备
G03F1-22 .用于通过100nm或更短波长辐照成像的掩膜或空白掩膜,例如 X射线掩膜、深紫外
G03F1-26 .相移掩膜[PSM];PSM空白;其制备
G03F1-36 .具有临近校正特征的掩膜;其制备,例如光学临近校正(OPC)设计工艺
G03F1-38 .具有辅助特征的掩膜,例如用于校准或测试的特殊涂层或标记;其制备
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