[发明专利]磁屏蔽性能测试装置有效
| 申请号： | 202010144183.X | 申请日： | 2020-03-04 |
| 公开（公告）号： | CN113358940B | 公开（公告）日： | 2023-04-25 |
| 发明（设计）人： | 卫铃佼;王莉娟;洪国同;刘彦杰;梁惊涛;王国鹏;李建国 | 申请（专利权）人： | 中国科学院理化技术研究所 |
| 主分类号： | G01R29/08 | 分类号： | G01R29/08 |
| 代理公司： | 北京路浩知识产权代理有限公司 11002 | 代理人： | 谭云 |
| 地址： | 100190 *** | 国省代码： | 北京;11 |
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| 摘要： | 本发明涉及磁屏蔽性能测试技术领域，公开了磁屏蔽性能测试装置。该测试装置包括外层屏蔽筒、磁场产生线圈、液氦杜瓦、测试样品和磁场探测器；所述液氦杜瓦设于所述外层屏蔽筒内，所述磁场产生线圈绕设在所述液氦杜瓦的外周，所述测试样品设于所述液氦杜瓦内的液氦中；其中，所述液氦杜瓦的顶端构造有向下延伸至所述液氦杜瓦内的探测通道，所述探测通道位于所述液氦杜瓦内的一端封闭，所述探测通道位于所述液氦杜瓦顶端的一端敞口，且所述探测通道穿至所述测试样品的内部，所述磁场探测器从所述探测通道的敞口端设于所述探测通道内，以测量所述测试样品的内部磁场。本发明操作方便，测量精度高，并能有效减少液氦使用量，降低测试成本。 | ||
| 搜索关键词： | 屏蔽 性能 测试 装置 | ||
【主权项】：
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