[发明专利]一种半导体器件、制造方法及其应用在审

专利信息
申请号: 202010149409.5 申请日: 2020-03-05
公开(公告)号: CN111816700A 公开(公告)日: 2020-10-23
发明(设计)人: 黎子兰 申请(专利权)人: 广东致能科技有限公司
主分类号: H01L29/778 分类号: H01L29/778;H01L21/335;H01L29/06
代理公司: 北京超凡宏宇专利代理事务所(特殊普通合伙) 11463 代理人: 崔振
地址: 510700 广东省广*** 国省代码: 广东;44
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摘要: 本公开内容提供一种半导体器件及其制作方法,所述器件包括一衬底,在所述衬底上的第一绝缘层,形成在所述衬底上的多个沟槽,所述沟槽的一侧壁上具有一成核层,以及通过所述成核层沿着所述沟槽形成的第一半导体层,以及籍由所述第一半导体层形成的所述半导体器件。本公开内容有助于实现如下效果之一:能实现较高的高宽比、更高的集成密度、降低导通电阻、提高阈值电压、实现常关状态、提供高功率、高可靠性、适合平面化工艺、制备方法简单、减低成本等。
搜索关键词: 一种 半导体器件 制造 方法 及其 应用
【主权项】:
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