[发明专利]X射线照影方法及其系统有效
| 申请号： | 202010152161.8 | 申请日： | 2020-03-06 |
| 公开（公告）号： | CN113359176B | 公开（公告）日： | 2022-10-04 |
| 发明（设计）人： | 陈思妤;李致贤 | 申请（专利权）人： | 台达电子工业股份有限公司 |
| 主分类号： | G01T1/08 | 分类号： | G01T1/08 |
| 代理公司： | 隆天知识产权代理有限公司 72003 | 代理人： | 黄艳 |
| 地址： | 中国台*** | 国省代码： | 台湾;71 |
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| 摘要： | 本发明涉及一种X射线照影方法及其系统，该X射线照影方法包含多个步骤：(a)执行一第一物体照影，通过检测穿过一第一物体的一X射线，获得一第一物体强度信号；(b)执行一基准照影，通过检测该第一物体不在一照影范围时该X射线，获得一基准强度信号；以及(c)由该第一物体强度信号、该基准强度信号及该第一物体的一第一衰减系数进行运算，获得该第一物体的一第一厚度。 | ||
| 搜索关键词： | 射线 方法 及其 系统 | ||
【主权项】：
暂无信息
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