[发明专利]一种液面探测限位装置在审
| 申请号： | 202010158974.8 | 申请日： | 2020-03-09 |
| 公开（公告）号： | CN113375752A | 公开（公告）日： | 2021-09-10 |
| 发明（设计）人： | 雷伟勇 | 申请（专利权）人： | 昌微系统科技(上海)有限公司 |
| 主分类号： | G01F23/00 | 分类号： | G01F23/00;G08C19/36 |
| 代理公司： | 北京大成律师事务所 11352 | 代理人： | 李佳铭;王芳 |
| 地址： | 200025 上海*** | 国省代码： | 上海;31 |
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| 摘要： | 本发明提供了一种液面探测限位装置，包括槽型光耦、挡光片与第一电阻；所述槽型光耦包括信号发射端与信号接收端；所述信号发射端的第一端与高电平连接，第二端与低电平连接；所述信号接收端的第一端通过所述第一电阻与所述高电平连接，第二端与所述低电平连接；所述挡光片随所述探测结构移动，当所述探测结构到达液面极限位置时，所述挡光片到达所述槽型光耦的所述信号发射端与所述信号接收端之间，所述信号接收端的第一端由低电平变为高电平。通过此技术方案，将探测结构是否到达极限位置的检测转化为电学量的变化，准确且灵敏度高，当探测结构下降到极限位置时，可以迅速响应使探测结构停止下降，也不会损坏探测结构。 | ||
| 搜索关键词： | 一种 液面 探测 限位 装置 | ||
【主权项】：
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